泰勒粗糙度儀Surtronic DUO分體式信息

Surtronic DUO 是英國泰勒霍普森（Taylor Hobson）公司推出的一款創新型高級便攜式表面粗糙度測量儀，專為滿足現代工業現場對高效、靈活及精準測量的需求而設計。作為傳統手持式粗糙度儀的革新之作，Surtronic DUO 最的特點在于其獨特的“分體式"架構。該儀器由顯示控制單元和驅動測量單元兩部分組成，兩者之間通過穩定的藍牙無線技術進行通訊。這種分離式設計極大地拓展了測量的適用范圍，使得操作人員在面對深孔、凹槽、大型工件或難以直接接觸的表面時，只需將小巧的驅動單元置于測量位置，即可在遠處的顯示屏上實時讀取數據，解決了傳統一體式儀器在特殊工況下操作不便的難題。
在功能表現上，Surtronic DUO 延續了泰勒霍普森一貫的高精度基因。用戶只需按下單個按鈕，儀器即可自動完成測量過程，并在其配備的2.4英寸高清彩色LCD屏幕上即時顯示詳細的輪廓圖及多種關鍵粗糙度參數。它支持包括Ra（輪廓算術平均偏差）、Rz（十點高度）、Rt（高度）、Rp、Rv以及Rsk、Rku等在內的9種常用表面粗糙度參數，同時提供5種未濾波參數選項符合ISO、ASME等國際主流標準。直觀的圖形化界面不僅讓數據讀取一目了然，還便于操作人員快速判斷表面加工質量。